이 기사는 2017년 01월 23일 10:02 thebell 에 표출된 기사입니다.

삼성전자가 갤럭시노트7 발화원인을 ‘배터리 자체 결함'으로 최종 결론지었다. 이에 따라 차기작 갤럭시S8(가칭)은 배터리 안전성을 대폭 강화해 재발 방지에 나섰다.

삼성전자는 23일 서초사옥에서 국내외 언론 300여명이 참석한 가운데 갤럭시노트7 소손 원인을 투명하게 공개하고, 향후 재발 방지 대책을 발표했다. 이번 소손 원인 조사의 객관성을 높이기 위해 UL, Exponent, Tuv 라인라인드 등 해외 전문기관서도 독립적인 조사를 진행했다.

삼성전자는 갤럭시노트7 소손 원인을 배터리 자체 결함으로 최종 분석했다. 고동진 삼성전자 무선사업부 사장은 "지난 수개월 간 철저한 원인 규명을 위해 하드웨어와 소프트웨어 등 제품 뿐 아니라 각각의 검증 단계와 제조, 물류, 보관 등 전 공정에서 원점에서부터 총체적이고 깊이 있는 조사를 실시했따"고 말했다.

고 사장은 "정확한 원인 규명을 위해 시장에서 발생한 소손 현상을 실험실에서 재현하는 것이 중요하다고 판단했다"며 "대규모의 재현 테스트 설비를 구축해 사용자 조건과 유사한 환경 하에서 충방전 테스트를 통해 소손 현상을 재현했고, 이를 통해 정확한 분석을 진행할 수 있었다"고 덧붙였다.

삼성전자는 제품 20만대, 배터리 3만대로 진행한 대규모 충반전 시험에서 소손현상을 재현했고, 노트7에 채용된 A배터리와 B배터리에서 각기 다른 원인으로 소손 현상이 일어나는 것을 확인했다.

이번 갤럭시노트7 소손 원인 분석에 참가한 해외 전문기관들 분석 결과도 배터리 자체 결함으로 모아졌다. UL은 제품 레벨에서 노트7 소손과 연관된 문제를 발견할 수 없었고, A배터리는 배터리 위쪽 코너에 눌림 현상과 얇은 분리막으로 배터리 내부 단락을 발생시켜 소손 유발 요인으로 분석했고, B배터리에 대해서는 비정상 융차골기, 절연테이프 미부착, 얇은 분리막의 조합이 배터리 내부에서 단락을 발생시키는 것으로 분석했다.

Exponent도 제품 전반에 걸친 상세한 분석을 진행해 하드웨어와 소프트웨어 분석에서는 소손과 관련 있는 요인이 발견되지 않았다고 밝혔다. A배터리는 음극탭 부위 젤리롤 코너의 눌림 현상을 소손의 주요 원은으로 분석했고, B배터리는 비정상적으로 높은 융창 돌기와 그로 인한 절연 테이프와 분리막 파손을 내부 단락을 발생시키는 주요 요인으로 분석했다.

고 사장은 "그 동안 고객 여러분들과, 통신사업자, 유통거래선, 모든 협력사 여러분들게 불편과 심려를 끼쳐드려 진심으로 사과드린다"며 "여러분들의 신뢰를 다시 얻기 위해 노트7 소손의 원인을 철저하게 밝혀내고 개발, 제조, 검증 등 모든 프로세스에 대한 종합적인 재발방지 대책을 수립했다"고 밝혔다.